中國第一臺大型X線斷層顱腦掃描裝置透過技術鑑定

在37年前的今天，1983年5月30日(農曆1983年4月18日)，中國第一臺大型X線斷層顱腦掃描裝置透過技術鑑定。1983年5月30日，上海醫療器械研究所等單位研製的中國第一臺大型X線斷層顱腦掃描裝置，經過２４６個病例的臨床使用，證明效果良好，在上海透過技術鑑定。X線斷層顱腦掃描裝置是當代的一項重大科技成就，當時只有美國、日本等少數國家能生產，它能夠有效地診斷腦腫瘤、腦出血和腦栓塞等許多腦疾病。